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精测磁盘与磁头距离可大大提高存储容量 |
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硬磁盘与磁头之间的距离对硬盘存储容量有很大影响。日本ＩＢＭ公司开 发了一种能精密测量这一距离的新技术。最小可测距离为２５．４毫微米，比 过去缩小６０％。这一距离越小，存储容量越大。这对多媒体来说尤其重要。 该测量设备价格低廉，并已开始对外销售。价格为２０００万日元至３０００ 日元。根据其用途和性能的不同该测量设备共分４种机型。 目前生产的硬盘机，这一距离为７６毫微米，每片磁盘的容量为２７０Ｍ Ｂ（２．５英寸）。距离减小一半，则容量可增加一倍。 新技术还可计算光源和磁盘表面的反射、折射率等的差异。由于一边对数 据的差异进行补偿，一边计算距离，所以测量精度比过去大大提高。 该测量设备采用廉价的ＣＣＤ（电荷耦合器件）摄像机代替反射光受光器 等特殊结构。过去的一般测量设备对磁头一点一点地测量，并且要移动测量装 置，而新测量设备可以同时测量整个磁头，不需要移动机构，从而降低了设备 成本，并可使设备体积缩小到７５０×１０００×１５００毫米。 （计算机世界报 1994年 第20期） |
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